Perşembe

Psikrometri IV

Merhaba arkadaşlar,

Psikrometirk diagram yazılarımızda örnek bir proses oluşturmaya devam ediyoruz. Ortam havasının klimatize edilmesi için kullandığımız hava şartlandırma üniteleri (Klima santrali, AHU, vs. Diye de adlandırılır.) içerisindeki fiziksel şartları taklit eden psikrometrik prosesleri oluşturmak aslında dikkat edilmesi gereken birkaç husus dışında çok zor bir iş değildir. Geçen yazılarımızda, öncelikle diagramı oluşturan bileşenleri, diagram üzerindeki noktaların özelliklerini okumayı ve karışım havalı bir soğutma prosesi çizmek için gerekli hazırlıkları gözden geçirmiştik. Bu yazımızda SHF ve ESHF kullanarak cihaz çiğ noktası bulmayı öğreneceğiz.

Klima santrali üzerndeki ısıtma, soğutma, karışım havası oluşturma, nemlendirme, vb. İşlemlerin diagram üzerinde simule edilerek gerekli hava debisi, serpantin kapasitesi gibi değerleri bulmaya proses hazırlama diyoruz. Bu prosesler konfor klimasına hitap edebileceği gibi, endüstriyel uygulamaları da içerebilir, hatta ürün kurutma, havuz nem alma gibi özellikli işler için de prosesler tasarlayabiliriz.

Geçen yazımda SHF kavramından bahsetmiştik. Bu kavram oda duyulur ısısı ile oda toplam ısısının oranıdır ve psikrometrik diagram üzerinde SHF cetvelleri yardımı ile tespit edilen oran açısına denk gelecek şekilde bir cetvel yardımı ile taşınabilir, tabiî ki halen el ile proses hazırlıyorsanız .

Önceki yazılarımda bahsettiğim gibi, ısı yükü hesabı sonucunda bulunacak olan oda duyulur ısısı (ODI, RSH) ve oda gizli ısısı (OGI, RLH) yardımı ile duyulur ısı oranını (DIO, SHF) buluyoruz.

SHF = RSH / (RSH + RLH) şeklinde hesaplanır. Burada;

SHF; Oda duyulur ısı oranı,
RSH; Oda duyulur ısısı (Watt),
RLH; Oda gizli ısısıdır (Watt).

Oda duyulur ısısının fazla olması duyulur ısı oranının 1 ‘e yaklaşması demektir. Klasik proses uygulamalarında oran (SHF) 0.7 ile 1 arasında kalır. Örnek değerler üzerinden açıklama gerekirse, ısı kazancı hesabı ile bulduğumuz (Biz her zaman ısı kazancı hesabınızı MTH için Isı Yükü Hesabı v2.4 ile yapmanızı tavsiye ederiz.) Oda duyulur ve gizli yüklerini tespit edelim.

ODI: 25,000 Watt
OGI: 8,500 Watt

Buna göre DIO formülünü işletecek olursak DIO = 0.75 oranını elde ederiz.

Fig.1

DIO cetveli yardımı ile şekilde kırmızı ile çizilen DIO çizgisini kâğıt üzerinde cetvel yardımı ile iç hava noktasına kadar taşıyoruz. Eğer MTH için Psikrometrik diagram kullanıyorsanız bu tarz bir işlemi gerçekleştirmek otomatik komutlar sayesinde 1–2 saniyenizi alacaktır. 0.75 eğim oranı ile iç hava noktasından %100 doyma eğrisine kadar bir çizgi çizerek cihaz çiğ noktamızı %100 doyma eğrisi üzerinde işaretliyoruz.

Bu örnekte cihaz çiğ noktamız 9.61 °C noktasında vücut bulmuştur. Cihaz çiğ noktası değerine bakarak chiller için ve soğutma tesisatımız için bir rejim belirleyebilir. En ekonomik tercih ise mümkün olduğunca yüksek cihaz çiğ noktası sıcaklığı elde etmektir. Sistem rejimi için çeşitli seçenekler mevcut olmakla beraber, 6/10, 7/12, 6/12 veya 7/13 değerlerinden biri tercih edilebilir. Gerçek değeri CÇN değerinden 1–1,5 ° düşük seçerek tespit etmek doğru tercih olacaktır.

Fig.2

Cihaz çiğ noktası tespitinde; oda ısıları kullanıldığı durumlarda DOI değerine, karışım havası ve dış hava yüklerini de dikkate alarak bulduğumuzda ise EDIO değerine ulaşıyoruz. Efektif duyulur ısı soranı ile duyulur ısı oranı arasındaki fark, dış hava yükünden kaynaklanır.

EODI Formülü dış hava duyulur ısısı (OASH), dış hava gizli ısısı (OALH) ve By-pass (BF) faktörünü kullanır. Soğutma uygulamalarında efektif duyulur ısı oranının hesabı önem taşır. Bu formül yardımı ile cihaz çiğ noktası tespiti yapılır. Uygulamada efektif oda duyulur ısı oranı ile oda duyulur ısı oranı arasındaki fark efektif duyulur ısı oranında dış havadan kaynaklanan duyulur ve gizli ısıyı göz önüne alınırken oda duyulur ısı oranında alınmamasıdır.

Fig.3

Bir dahaki yazımda, soğutma prosesleri için serpantin yükü bulmayı irdeleyeceğiz, Hoşcakalın.

İlgili Yazılar:

• Psikrometri [1][2][3]

Technorati Tags: AutoCAD Günlüğü, Psikrometri